AEC-Q200认证样品要求
发布时间：2020-03-14 21:04:53
测试样品要求
1）批次要求：批次要求在表格1中有说明；
2）生产要求：所有认证器件都应在制造场所加工处理，有助于量产时零件的传输；
3）测试样品的再利用：已经用来做非破坏性认证测试的器件可以用来做其他认证测试，而做过破坏性认证测试的器件则除了工程分析外不能再使用；
4）样品数量要求：用于认证测试的样品数量与（或）提交的通用数据必须与表1中指定的小样品数量和接受标准相一致。如果通用数据不能满足这些要求，就要进行器件特殊认证测试。当对大量的器件进行应力测试时，禁止在可靠性测试中对产品使用夹具；
5)预前应力测试和应力测试后要求：除非适用的测试的附加要求章节中有指定，预前应力测试和应力测试后只在标称温度（室温）下进行。在更高等级环境应用的认证，温度特殊值必须设有差情况和应用的设计产品寿命，即每个测试中用至少一个批次的通用数据和器件特殊数据来设置温度等级极端。例如，如果某供应商设计一种器件，有意设置在工作温度等级3环境（-40℃到+80℃），那么终端测试温度极端仅需将其作为限定，供适用的应力测试要求指定工作温度极端下的电气测试。针对更高工作温度等级环境（等级1的-40℃到+125℃）应用中的认证，要测试至少一个批次能用到附加终端测试温度极端的器件。所有的终端测试条件必须包括了给定产品系列的所有规格。
6）应力测试失效后的定义：
测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。
表1：认证测试样品数量要求
应力方式 | NO | 注释 | 样品数/批 | 批次 | 接受标准 |
| Pre-and Post-Stress Electrical Test 应力测试前后电气测试 | 1 | G | 所有进行认证的产品都应送去测试 | 0 |
| High Temperature Exposure 高温存储 | 3 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Temperature Cycling 温度循环 | 4 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Destructive Physical Analysis 破坏性物理分析 | 5 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Moisture Resistance 湿度抵抗 | 6 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| Humidity Bias 偏高湿度 | 7 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| High Temperature Operating Life 高温工作寿命 | 8 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
| External Visual 外观 | 9 | NG | 所有提交认证的产品 | 0 |
| Physical Dimensions 尺寸 | 10 | NG | 30 | 1 | 0 |
| Terminal Strength(Leaded) 端子强度（引脚） | 11 | DGL | 30 | 1 | 0 |
| Resistance to Solvent 溶剂抵抗 | 12 | DG | 5 | 1 | 0 |
| Mechanical Shock 机械冲击 | 13 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
| Vibration 振动 | 14 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
| Resistance to Solder Heat 抗焊接热 | 15 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Thermal Shock 热冲击 | 16 | DG | 30 | 1 | 0 |
| ESD 静电放电 | 17 | D | 15 | 1 | 0 |
| Solderability 可焊性 | 18 | D | 15 每种条件 | 1 | 0 |
| Electrical Characterization 电气特性 | 19 | NG | 30 Note A | 1 | 0 |
| Flammability 可燃性 | 20 | D | Present certificate of compliance提供合格证明书 |
| Board Flex 板弯曲 | 21 | DS | 30 | 1 | 0 |
| Terminal Strength (SMD) 端子强度（表面贴装元件） | 22 | DS | 30 | 1 | 0 |
| Beam Load 射束负载（断裂强度） | 23 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Flame Retardance 阻燃测试 | 24 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Rotation Life 旋转寿命 | 25 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Surge Voltage 冲击电压 | 27 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Salt Spray 盐雾试验 | 29 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Electrical Transient Conduction 瞬时电传导 | 30 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Shear Strength 剪切强度 | 31 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Short Circuit Fault Current Durability 短路失效电流耐久性 | 32 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Fault Current Durability 失效电流耐久性 | 33 | DG | 30 | 1 | 0 |
| End-of-Life Mode Verification 寿命终止模式验证 | 34 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Jump Start Endurance 助推启动持久性 | 35 | DG | 30 | 1 | 0 |
| Load Dump Endurance 突卸负载持久性 | 36 | DG | 30 | 1 | 0 |
表1说明
Note A 对于参数验证数据，某些情形不可避免地用户只接受一批。随后的用户应决定使用先前用户的认证承认，后续用户有责任验证使用的可接受批次数量。
B 用通用的（家族）数据代替器件具体数据的，要求3批。
L:只用于直插引脚
N:非破坏性测试，器件可用于组装到板子上进行其它测试或者可用于生产
D:破坏性测试，器件不可重新用于认证测试或生产；
S:只要求用于表面贴装元件；
G:允许通用数据