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 广电计量 杜飞 先生

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常见问题 FAQ>>工艺质量评价>>质量一致性检验

分立器件、集成电路B、S级周期检验E组测试项目

发布时间：2021-11-01 08:35:25
（分立器件）E组测试项目介绍
项目
方法GJB128A
抽样数
1
温度循环（空气）1051 至少500次规定
终点测试
2
动态交流（AC）间歇工作寿命电测试详规规定
或稳态直流（DC）间歇工作寿命电测试
或稳态DC阻断寿命终点测试
3
DPA21013（0）
4
热阻　LTPD=10
功率FET3161
双极型晶体管GB/T4587 Ⅳ 11
二极管GB/T4023 Ⅳ 2
IGBT3103
GaAsFET3104
5
低气压（额定电压>200V）1001LTPD=15
（集成电路，B、S级）E组测试项目介绍
项目
方法GJB548
S级抽样数
B级抽样数
1
中子辐射101711（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效
终点测试
2
稳态总剂量辐射10194（0）半径为晶片半径2/3周围存在>4000只芯片11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加16个无失效
终点测试2（0）半径为晶片半径2/3周围存在≤4000只芯片
3
瞬态电离辐射102111（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效
终点测试1023
4
辐射锁定1020详规详规
备注： 1、本组做完器件不能做其他组，但可以做更苛刻。2、不在规定时间内进行，总辐射量不可累加。
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