AEC-Q200案例之多层压敏电阻器高温存储High Temperature Exposure (Storage)及温度循环Temperature Cycling

发布时间:2022-04-18 10:00:14
AEC-Q200案例之多层压敏电阻器高温存储High Temperature Exposure (Storage)及温度循环Temperature Cycling
AEC-Q200高温存储(High Temperature Exposure (Storage))
1.1 试验信息
样品数量:77 pcs * 1 lot
参考方法:MIL-STD-202H-108 (18 April 2015)
通电情况:不通电
试验温度:Ta
试验时长:1000 h
电测节点:0h(初测)、250h、500h、1000h(终测)
合格判据:由客户提供并确认,一般是电测数值范围及外观检查
1.2仪器设备
半导体分立器件测试系统
多功能综合老化系统
2.AEC-Q200温度循环(Temperature Cycling)
2.1 试验信息
样品数量:77 pcs * 1 lot
参考方法:JEDEC JESD22 Method JA-104F
通电情况:不通电
浸泡温度(最小及最大):一般是最大温度值及最小温度值
保持时间:30 min
转换时间:≤ 1 min
试验时间:1000循环
电测节点:0h(初测)、250h、500h、1000h(终测)
合格判据:由客户提供并确认,一般是电测数值范围及外观检查
2.2 仪器设备
半导体分立器件测试系统
温度冲击试验箱
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