元器件筛选

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广电计量 杜亚俊 先生

元器件筛选项目

元器件筛选分类
按性质分类:
(1)检查筛选:显微镜检查、红外线非破坏检查、X射线非破坏性检查。 
(2)密封性筛选:液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示踪检漏、湿度试验。 
(3)环境应力筛选:振动、冲击、离心加速度、温度冲击、温度存储、综合应力。 
(4)寿命筛选:功率老化、反偏老化筛选。
按生产过程分类: 
(1)生产线工艺筛选 
(2)成品筛选 
(3)装调筛选(即用模拟 整机使用状态)
按筛选方法分类:
(1)分布截尾筛选:对元器件参数性能的分选;
(2)应力强度筛选:对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选;
(3)老炼筛选:在规定时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选;
(4)线性鉴别筛选:类似老炼筛选,但要应用数理统计技术进行判别;
(5)精密筛选:在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次精确地测量参数变化量进行挑选和预测。

参考检测项目
外观检查:参考:GJB 128A-1997 方法2071、 GJB 548B - 2005方法2009.1等
电测试:常温测试、低温测试、高温测试,依据:GB、GJB、元器件规格书 专业电测试设备,包含电参数测试和功能测试
环境应力检测:扫频/随机振动、低温/高温存储、温度循环/温度冲击、恒定加速度或跌落、粒子碰撞噪声检测(PIND)
寿命/老化/老炼:老炼前/后电测试,反偏老炼,功率老炼等,专用老炼箱、专用老炼板
密封 细检漏、粗检漏
扫描声学显微镜检查:高可靠性要求
X射线照相:参考:GJB 360A-1996 方法209、 GJB 128A-1997 方法2076、 GJB 548B-2005方法2012.1等

常见元器件筛选标准
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
GJB7243-2011军用电子元器件筛选技术要求
QJ 10003—2008 进口元器件筛选指南
GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范
GJB 63B-2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范
GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范
GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范
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