工艺质量验证、评价

13632345742
广电计量 杜亚俊 先生

成分分析

汽车电子PCB&PCBA工艺评价项目之成分分析概述
成分分析是指通过科学分析方法对产品或样品的成分进行分析,对各个成分进行定性定量分析的技术方法。其主要作用和目的是帮助客户解决以下问题:
1)判断材料是否符合原材料标准要求;2)鉴定不同批次材料成分是否相同;3)区分外观相似的材料等等。
常用分析方法:
有机物分析:红外分析(FTIR)、气质联用分析(GC-MS)、热重分析(TGA)、二次离子质谱(TOF-SIMS)
无机物分析:X射线能谱(SEM/EDS)、ICP-OES、X射线光电子能谱(XPS)
分析手段
典型应用
分析特点
参考标准
红外光谱FTIR有机物定性;有机污染物分析能进行微区分析,其显微镜测量孔径可到8μm或更小,可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析GB/T 6040-2002
扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS表面微观形貌观察;微米级尺寸量测;微区成分分析;污染物分析能快速的对各种试样的微区内Be~U的大部分元素进行定性、定量分析,分析时间短JY/T 010-1996
GB/T 17359-2012
飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS有机材料和无机材料的表面微量分析;表面离子成像;深度剖面分析优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度;深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;小面积分析ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009
动态二次离子质谱D-SIMS产品表面微小的异物分析;氧化膜厚度分析;掺杂元素的含量测定分析区域小,能分析≥10μm直径的异物成分;分析深度浅,可测量≥1nm样品;检出限高,一般是ppm-ppb级别ASTM E1078-2009
ASTM E1829-2009
ASTM E1504-2011
俄歇电子能谱AES缺陷分析;颗粒分析;深度剖面分析;薄膜成分分析可以作表面微区分析,并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像GB/T 26533-2011
X射线光电子能谱XPS有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析;表面成分及化学状态信息;深度剖面分析分析层薄,分析元素广,可以分析样品表面1-12nm的元素和元素含量GB/T 30704-2014
相关问题 Related Issues
页次:1 / 1页 数据:1条  上一页  1  下一页  
友情链接:
CNAS官网 | 新浪博客