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广电计量 杜亚俊 先生

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AEC-Q102案例COB封装器件之变频振动VVF试验条件及试验要求

发布时间:2020-09-21 08:46:50
AEC-Q102案例COB封装器件之变频振动VVF试验条件及试验要求

项目名称:
变频振动(Vibration Variable Frequency,VVF)
试验条件:
依据AEC-Q102; 
振动频率范围:(20~2000)Hz; 
位移峰峰值:1.5 mm; 
峰值加速度:200 m/s2 (20g) 
交跃频率:80 Hz 
振动方向及时间:X, Y, Z; 4 min/循环;每方向4个循环,共12个循环
样品数量:
10 pcs. * 3 lots
试验信息:
参考方法:JEDEC JESD22-B103B.01
频率范围:(20~2000) Hz
位移峰峰值:1.5 mm
峰值加速度:200 m/s2 (20 g)
交跃频率:80 Hz
扫频时间:每循环4 min
光电参数测试节点:
初测/终测
仪器设备:
光电参数测试系统
半导体分立器件测试系统
振动台
试验要求:
合格判据如下表:应力试验前后光电参数
参数
符号
合格判据
测试条件
试验项目
光通量Φ±20%If=280mAPC/ HTOL1/ WHTOL1/ WHTOL2/ TC/ PTC/ HBM/ CDM/ VVF/ MS/    RSH-reflow/ PLT/ DEW/ H2S/ FMG
色坐标Cx±0.01If=280mA
Cy±0.01If=280mA
正向电压Vf±10%If=280mA
正向电压(10%额定电流)Vmin±10%If=28mA
参考记录数据列表如下:
VVF数据列表
Φ (lm)
Cx
Cy
Vf (V)
Vmin (V)
样品编号
Pre-
Post-
ΔΦ
Pre-
Post-
ΔCx
Pre-
Post-
Δcy
Pre-
Post-
ΔVf
Pre-
Post-
Δvmin
1
2
10
MIN
MAX
AVG
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