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广电计量 杜亚俊 先生

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AEC-Q102案例COB封装器件之脉冲工作寿命PLT试验条件及试验要求

发布时间:2020-09-27 15:36:25
AEC-Q102案例COB封装器件之脉冲工作寿命PLT试验条件及试验要求

项目名称:
脉冲工作寿命(Pulsed Operating Life,PLT)
试验条件:
依据AEC-Q102; Tc =55℃; Ipulse= 840 mA; 脉冲:100μs; 占空比:3%;保持时间:1000 h
样品数量:
26 pcs. * 3 lots
试验信息:
参考方法:JEDEC JESD22-A108 F
通电情况:Ipulse=840 mA
脉冲宽度:100μs
占空比:3%
试验温度:Tc = 55℃
试验时间:1000 h
光电参数测试节点:
0 h(初测)/168 h/500h/1000h(终测)
仪器设备:
光电参数测试系统
半导体分立器件测试系统
集成稳压管高温老化系统
试验要求:
合格判据如下表:应力试验前后光电参数
参数
符号
合格判据
测试条件
试验项目
光通量Φ±20%If=280mAPC/ HTOL1/ WHTOL1/ WHTOL2/ TC/ PTC/ HBM/ CDM/ VVF/ MS/RSH-reflow/ PLT/ DEW/ H2S/ FMG
色坐标Cx±0.01If=280mA
Cy±0.01If=280mA
正向电压Vf±10%If=280mA
正向电压(10%额定电流)Vmin±10%If=28mA
参考记录数据列表如下:
光通量
样品编号
0 h
168 h
500 h
1000 h
Φ (lm)
Φ (lm)
ΔΦ
Φ (lm)
ΔΦ
Φ (lm)
ΔΦ
1
2
26
MIN
MAX
AVG
色坐标Cx
样品编号
0 h
168 h
500 h
1000 h
Cx
Cx
ΔCx
Cx
ΔCx
Cx
ΔCx
1
2
26
MIN
MAX
AVG
色坐标Cy
样品编号
0 h
168 h
500 h
1000 h
Cy
Cy
ΔCy
Cy
ΔCy
Cy
ΔCy
1
2
26
MIN
MAX
AVG
正向电压Vf
样品编号
0 h
168 h
500 h
1000 h
Vf
Vf
ΔVf
Vf
ΔVf
Vf
ΔVf
1
2
26
MIN
MAX
AVG
正向电压(10%额定电流)Vmin
样品编号
0 h
168 h
500 h
1000 h
Vmin
Vmin
ΔVmin
Vmin
ΔVmin
Vmin
ΔVmin
1
2
26
MIN
MAX
AVG
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