AEC-Q100标准解读之Temperature Humidity-Bias or Biased HAST (THB or BHAST)
发布时间：2022-07-26 14:52:16
AEC-Q100标准解读之 Temperature Humidity-Bias or Biased HAST (THB or BHAST)
测试项目：Temperature Humidity-Bias or Biased HAST (THB or BHAST)
参考标准：JEDEC JESD22-A101 or JEDEC JESD22-A110；
目的：
THB：评估IC产品在高温，高湿，偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程;
BHAST：评估IC产品在偏压下高温，高湿，高气压，偏压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程；
失效机制：电离腐蚀，封装密封性；
试验通过判断依据：芯片试验完成后FT常、高温测试pass；
实验室能力范围：芯片级别的THB、BHAST都可以做。
试验条件：
For surface mount devices, PC before THB (85℃/85% RH for 1000 hours) or HAST (130 ℃ /85% RH for 96 hours, or 110 ℃ /85% RH for 264 hours).
TEST before and after THB or HAST at room and hot temperature.
根据芯片封装材料、功耗、封装方式选择试验条件
进行THB/BHAST试验前，试验样品需要进行预处理：
需求确认：需客户提供客户提供HAST参考原理图或者设计需求、芯片POD、硬件需求数量、具体试验条件、试验样品数量、THB、BHAST条件下单颗芯片预计功耗。