AEC-Q认证

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广电计量 杜亚俊 先生

AEC-Q104认证

AEC-Q104认证概念
AEC-Q104 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR MULTICHIP MODULES (MCM) IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS:多芯片组件(MCM)的基于失效机理的应力测试验证

AEC-Q104认证对象
多芯片组件MCM

AEC-Q104测试项目分组
A组:加速环境应力测试(6项)
B组:加速寿命模拟测试(3项)
C组:封装组装完整性测试(8项)
D组:晶圆制造可靠度测试(5项)
E组:电气特性确认测试(10项)
F组:瑕疵筛选监控测试(2项)
G组:空封器件完整性测试(8项)
H组:模块专项测试(7项)


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